顆粒電位滴定及粒度分析儀

產(chǎn)品型號(hào)： Stabino II

所屬分類(lèi)：分析儀

產(chǎn)品時(shí)間：2023-10-28

簡(jiǎn)要描述：顆粒電位滴定及粒度分析儀
通過(guò)使用stabino，可實(shí)現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測(cè)試。
分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是必
的。當(dāng)顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數(shù)。

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顆粒電位滴定及粒度分析儀

通過(guò)使用stabino II，可實(shí)現(xiàn)快速便捷的顆粒的電位滴定測(cè)試。在分散體系中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是的。當(dāng)顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數(shù)。電荷測(cè)量是通過(guò)建立動(dòng)電信號(hào)來(lái)完成的。

根據(jù)不同的測(cè)量原理，有電泳法，電聲法zeta電位，以及stabino測(cè)試所得的流動(dòng)電位。這些是經(jīng)常被提到的電位參數(shù)，來(lái)源于作用在顆粒界面雙電層上離子云的剪切力，如圖1。所有這些被測(cè)變量都與位于剪切面的顆粒界面電位（PIP）即zeta電位成正比關(guān)系。為了建立界面電位，要么通過(guò)電泳法或電聲法建立的電場(chǎng)，要么通過(guò)機(jī)械應(yīng)力作用于流動(dòng)電位和電聲法儀器。通過(guò)這樣做，來(lái)源于溶液中的外部松散附著的離子被帶走，顯露出可被直接測(cè)量的界面電位。

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